服務(wù)熱線
15815550998
更新時(shí)間:2026-03-23
點(diǎn)擊次數(shù):114
MCPD-9800與MCPD-6800是大塚電子株式會(huì)社推出的多通道光譜儀系列產(chǎn)品,覆蓋從紫外(220 nm)至近紅外(1600 nm)的寬波長(zhǎng)范圍。該系統(tǒng)采用平面場(chǎng)分光器與電子冷卻型圖像傳感器技術(shù),最短曝光時(shí)間可達(dá)1 ms,實(shí)現(xiàn)了高速、高靈敏度、高動(dòng)態(tài)范圍的光譜測(cè)量。本文系統(tǒng)闡述了兩款型號(hào)的技術(shù)架構(gòu)、核心性能參數(shù)及其在透過(guò)/吸收測(cè)量、膜厚分析、反射特性評(píng)價(jià)、物體顏色測(cè)量、發(fā)光/熒光分析等領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值,重點(diǎn)分析了高動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)、低雜散光抑制、光纖柔性光學(xué)系統(tǒng)等創(chuàng)新技術(shù)對(duì)測(cè)量精度的提升機(jī)制。
關(guān)鍵詞:多通道光譜儀;分光光度計(jì);膜厚測(cè)量;透過(guò)率;反射率;色度測(cè)量
在材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、光學(xué)元件評(píng)價(jià)及生物化學(xué)分析等領(lǐng)域,精確獲取物質(zhì)的光譜特性是定性定量研究的基礎(chǔ)。傳統(tǒng)掃描型分光光度計(jì)雖測(cè)量精度高,但難以滿足實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的需求。多通道光譜儀通過(guò)陣列檢測(cè)器并行采集全波段光譜信息,可在毫秒量級(jí)內(nèi)完成單次測(cè)量,成為在線監(jiān)控與高通量分析的理想選擇。
大塚電子自1990年代起深耕多通道光譜檢測(cè)技術(shù),MCPD系列產(chǎn)品經(jīng)過(guò)持續(xù)迭代,已形成以MCPD-9800為旗艦、MCPD-6800為標(biāo)準(zhǔn)型的完整產(chǎn)品矩陣。該系列憑借高速響應(yīng)、寬動(dòng)態(tài)范圍及靈活的光纖配置,在實(shí)驗(yàn)室研發(fā)與工業(yè)產(chǎn)線檢測(cè)兩大場(chǎng)景中均獲得廣泛應(yīng)用。
MCPD系列采用平面場(chǎng)分光器(Flat Field Grating)作為核心分光元件。入射光經(jīng)光纖導(dǎo)入后,通過(guò)狹縫入射至全息凹面光柵,光柵將不同波長(zhǎng)的光在空間上分離并聚焦至陣列檢測(cè)器平面。由于采用平像場(chǎng)設(shè)計(jì),檢測(cè)器平面上各波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的焦面處于同一平面,無(wú)需額外校正光學(xué)元件,有效簡(jiǎn)化了光路結(jié)構(gòu)。
檢測(cè)器選用電子冷卻型CCD圖像傳感器(紫外-可見(jiàn)-近紅外波段)或InGaAs線性圖像傳感器(近紅外波段)。512通道或1024通道的檢測(cè)單元并行采集各波長(zhǎng)信號(hào),配合檢測(cè)器內(nèi)部存儲(chǔ)器,可實(shí)現(xiàn)對(duì)動(dòng)態(tài)變化光譜的實(shí)時(shí)記錄。
系統(tǒng)工作流程如下:光源發(fā)出的光經(jīng)樣品調(diào)制后,攜帶樣品信息的光信號(hào)通過(guò)光纖傳輸至分光器;分光后各波長(zhǎng)光強(qiáng)由陣列檢測(cè)器轉(zhuǎn)換為電信號(hào);經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換后,通過(guò)USB或LAN接口傳輸至上位機(jī);專用分析軟件根據(jù)用戶配置完成光譜計(jì)算(透過(guò)率、反射率、吸收度、色度、膜厚等)。
MCPD系列標(biāo)配石英光纖(或摻鍺石英光纖),光纖長(zhǎng)度可根據(jù)需求定制(標(biāo)準(zhǔn)為2 m)。光纖的引入使光學(xué)系統(tǒng)不再受樣品形狀與尺寸的限制,可靈活搭建透射、反射、顯微、積分球等多種測(cè)量光路,并能方便地集成至大型平臺(tái)或工藝設(shè)備中。
MCPD-9800作為系列旗艦機(jī)型,實(shí)現(xiàn)了高動(dòng)態(tài)范圍(High Dynamic Range, HDR)檢測(cè)能力。相較于普通光譜儀,對(duì)弱光的檢出能力提升約5倍,適用于光通量評(píng)價(jià)及微弱發(fā)光測(cè)量。
在雜散光抑制方面,MCPD-9800通過(guò)優(yōu)化光學(xué)設(shè)計(jì)與檢測(cè)器工藝,將雜散光率降低至歷代機(jī)型的五分之一,特別適合紫外波段(<300 nm)的精確評(píng)估。這一特性對(duì)半導(dǎo)體材料帶隙分析、量子效率測(cè)量等紫外敏感應(yīng)用尤為關(guān)鍵。
MCPD系列支持從1 ms(MCPD-9800特定型號(hào))至65 s的曝光時(shí)間設(shè)定,覆蓋從高速在線檢測(cè)到微弱光積分測(cè)量的全場(chǎng)景需求。短曝光時(shí)間可捕捉瞬態(tài)光譜變化(如等離子體發(fā)射、化學(xué)反應(yīng)過(guò)程),長(zhǎng)曝光則適用于熒光、磷光等弱信號(hào)測(cè)量。
MCPD系列提供多達(dá)9種波長(zhǎng)范圍型號(hào),用戶可根據(jù)應(yīng)用需求選擇適配的檢測(cè)器:
| 型號(hào)代碼 | 測(cè)量波長(zhǎng)范圍(nm) | 通道數(shù) | 適用場(chǎng)景 |
|---|---|---|---|
| 2285C | 220-850 | 512/1024 | 紫外-可見(jiàn)全波段,含深紫外 |
| 3095C | 300-950 | 512/1024 | 可見(jiàn)-近紅外常規(guī)分析 |
| 3683C | 360-830 | 512/1024 | 可見(jiàn)光重點(diǎn)分析 |
| 311C | 360-1100 | 512/1024 | 擴(kuò)展近紅外 |
| 916C | 900-1600 | 512 | 近紅外專用(InGaAs) |
對(duì)于需要覆蓋更寬波長(zhǎng)范圍的場(chǎng)景,可通過(guò)定制多分光器組合實(shí)現(xiàn)。
系統(tǒng)同時(shí)配備USB和LAN通信接口。USB接口提供高便捷性,適用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境;LAN接口支持遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集,便于將設(shè)備集成至生產(chǎn)線自動(dòng)化系統(tǒng)中。
光纖采用特殊方式纏繞(Scramble加擾光纖),可有效消除因光纖彎曲或振動(dòng)引起的光強(qiáng)分布不均勻,確保測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定再現(xiàn)性。
相較于歷代機(jī)型,MCPD-9800/6800的體積減少約60%,尺寸僅為105 mm(寬)× 230 mm(高)× 280 mm(深),重量約6 kg。緊湊設(shè)計(jì)使其可靈活部署于空間受限的產(chǎn)線環(huán)境或集成至復(fù)雜測(cè)量系統(tǒng)中。
MCPD-9800與MCPD-6800的核心規(guī)格對(duì)比如下:
| 規(guī)格項(xiàng)目 | MCPD-9800 | MCPD-6800 |
|---|---|---|
| 測(cè)量波長(zhǎng)范圍 | 220-850 / 300-950 / 360-830 / 360-1100 / 900-1600 nm | 220-850 / 300-950 / 360-830 / 360-1000 nm |
| 分光器 | 平面場(chǎng)型 | 平面場(chǎng)型 |
| 檢測(cè)器 | 電子冷卻CCD / InGaAs | 電子冷卻型圖像二極管 |
| 通道數(shù) | 512 / 1024 | 512 / 1024 |
| 掃描時(shí)間 | 1 ms ~ 10 s(部分型號(hào)5 ms ~ 20 s) | 16 ms ~ 65 s |
| 光纖規(guī)格 | 石英纖維,φ12 mm,長(zhǎng)約2 m | 石英纖維,φ12 mm,長(zhǎng)約2 m |
| 通信接口 | USB / LAN | USB / LAN |
| 電源 | AC100-240V,125VA | AC100-240V |
| 尺寸(WDH) | 105 × 230 × 280 mm | 105 × 230 × 280 mm |
| 重量 | 約6 kg | 約6 kg |
| 適用測(cè)量項(xiàng)目 | 發(fā)光/熒光/反射/透過(guò)/膜厚/物體色/吸收/顯微分光/多點(diǎn)/在線 | 反射/透過(guò)/物體色/膜厚/吸收 |
數(shù)據(jù)來(lái)源:
MCPD系列的高靈活性體現(xiàn)在其可搭配多種光學(xué)附件與分析軟件,構(gòu)成面向特定應(yīng)用的完整測(cè)量系統(tǒng)。
適用于濾光片、透鏡、薄膜等光學(xué)元件的透過(guò)率與吸收光譜評(píng)價(jià)。通過(guò)配置溶液測(cè)量單元,可實(shí)現(xiàn)液體樣品的濃度分析與溶出試驗(yàn)。
用于光學(xué)材料、反射板的表面特性表征,以及抗反射膜(AR膜)、太陽(yáng)能電池等鍍層結(jié)構(gòu)的反射率評(píng)價(jià)。
基于分光干涉原理,通過(guò)解析反射光譜的干涉條紋計(jì)算膜厚。系統(tǒng)支持四種解析手法:
波峰-波谷法(P-V):適用于0.5 μm以上膜厚
快速傅里葉變換法(FFT):適用于數(shù)微米膜厚及多層膜解析
非線性最小平方法(Curve Fitting):適用于1 μm以下薄膜及光學(xué)常數(shù)(n, k)解析
適化法(Optimization):適用于在線生產(chǎn)環(huán)境,對(duì)反射率波形與理論波形進(jìn)行比較演算
膜厚測(cè)量范圍覆蓋65 nm至92 μm(以SiO?換算),可應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)、涂布膜、機(jī)能性薄膜、包裝膜等多種樣品。
適用于涂料、印刷品、布匹、粉體、塑料制品等的顏色評(píng)價(jià)。系統(tǒng)滿足日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS Z 8724(顏色的測(cè)量方法-光源色)中對(duì)分光測(cè)光器的精度要求,波長(zhǎng)偏差小于0.5 nm,測(cè)光直線性偏差優(yōu)于0.5%(強(qiáng)度比2:1)。
用于LED、OLED、PDP熒光體等光源的發(fā)射光譜、色度、亮度、照度測(cè)量。搭配積分球可評(píng)估總光通量。
通過(guò)將MCPD光譜儀與顯微鏡耦合,實(shí)現(xiàn)對(duì)微小區(qū)域(微米級(jí))的反射、透過(guò)、吸收光譜及膜厚測(cè)量,適用于半導(dǎo)體微區(qū)分析、MEMS器件評(píng)價(jià)等。
通過(guò)光纖切換裝置,實(shí)現(xiàn)多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的自動(dòng)順序測(cè)量,或集成至生產(chǎn)線進(jìn)行實(shí)時(shí)質(zhì)量監(jiān)控。
MCPD系列滿足日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS Z 8724對(duì)分光測(cè)光器的全部精度要求,包括:
波長(zhǎng)刻度準(zhǔn)確性:波長(zhǎng)偏差小于0.5 nm
測(cè)光刻度準(zhǔn)確性:強(qiáng)度比2:1時(shí)直線偏差小于0.5%,再現(xiàn)性優(yōu)于0.2%
雜散光:450 nm處雜散光低于1.0%
大塚電子的光計(jì)測(cè)實(shí)驗(yàn)室已通過(guò)日本計(jì)量法校正實(shí)驗(yàn)室注冊(cè)制度(JCSS)認(rèn)證,可提供國(guó)際MRA(相互承認(rèn)協(xié)議)對(duì)應(yīng)的光校正服務(wù),確保測(cè)量結(jié)果的可追溯性。
晶圓上膜厚測(cè)量(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
CMP工藝終點(diǎn)檢測(cè)
光刻膠剝離液濃度監(jiān)測(cè)
平板顯示器件的光學(xué)特性評(píng)價(jià)
抗反射膜、高反射膜的光譜特性
濾光片透過(guò)率測(cè)試
鏡頭鍍層均勻性檢查
新型光學(xué)材料透射/反射特性
納米材料吸收光譜
量子點(diǎn)發(fā)光特性
溶液濃度測(cè)定
酶標(biāo)分析
溶出度試驗(yàn)
車漆顏色管理與色差控制
顯示屏色度校準(zhǔn)
塑料件顏色一致性評(píng)價(jià)
MCPD-9800與MCPD-6800多通道光譜儀通過(guò)平面場(chǎng)分光技術(shù)、電子冷卻型陣列檢測(cè)器及柔性光纖光學(xué)系統(tǒng)的協(xié)同設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了從紫外至近紅外波段的高速、高靈敏度光譜測(cè)量。高動(dòng)態(tài)范圍與低雜散光特性使其在微弱光檢測(cè)與紫外分析中表現(xiàn)優(yōu)異;靈活的波長(zhǎng)范圍選擇和模塊化系統(tǒng)配置則滿足了從實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到產(chǎn)線在線的多樣化需求。結(jié)合大塚電子JCSS認(rèn)證的校準(zhǔn)服務(wù)體系,MCPD系列為光學(xué)、半導(dǎo)體、材料、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域的光譜分析與質(zhì)量控制提供了可靠的技術(shù)平臺(tái)。