KETT Fischerscope MMS PC2 多系統(tǒng)薄膜測厚儀產(chǎn)品介紹

核心優(yōu)勢：模塊化設(shè)計與多技術(shù)集成

• 靈活的模塊化架構(gòu)：儀器主機預(yù)留了多個模塊插槽，用戶可以根據(jù)自身的測量需求，像搭積木一樣選擇和安裝不同的測試模塊。這種設(shè)計使得一臺 MMS PC2 可以替代多臺專用設(shè)備，極大地節(jié)省了實驗室空間和設(shè)備采購成本。

• 多技術(shù)集成：通過安裝不同的模塊，MMS PC2 能夠運用多種測量原理，包括：

• 磁感應(yīng)法 (Magnetic Induction)：用于測量鋼鐵等磁性基材上的非磁性涂層（如油漆、鍍鋅層）厚度。

• 電渦流法 (Eddy Current)：用于測量銅、鋁等非磁性金屬基材上的絕緣涂層（如陽極氧化層）厚度。

• β射線反向散射法 (Beta Backscatter)：適用于測量極薄的貴金屬鍍層（如電路板上的金、銀鍍層）或復(fù)合涂層。

• 振幅/相位敏感電渦流法：用于更復(fù)雜的應(yīng)用，如測量多層電路板中特定銅層的厚度或材料的電導(dǎo)率。

智能化操作與*的數(shù)據(jù)處理能力

• 直觀的觸摸操作：配備大尺寸彩色觸摸屏，用戶可以像操作智能手機一樣，通過直觀的圖形界面輕松完成測量設(shè)置、數(shù)據(jù)分析和報告生成。同時，它也支持外接鍵盤和鼠標(biāo)，以滿足更復(fù)雜的操作需求。

• *的數(shù)據(jù)分析與統(tǒng)計：儀器內(nèi)置了*的統(tǒng)計分析功能，可以實時計算并顯示測量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差等關(guān)鍵數(shù)據(jù)。測量結(jié)果可以方便地存儲、導(dǎo)出，并通過 LAN 或 USB 接口無縫集成到工廠的質(zhì)量管理系統(tǒng)（QMS）或自動化生產(chǎn)流程中，實現(xiàn)數(shù)據(jù)的可追溯性和高效管理。

廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域

• 電子與半導(dǎo)體行業(yè)：精確測量印制電路板（PCB）上的銅層、金鍍層、焊料層以及光阻涂層的厚度，確保電子元件的性能與可靠性。

• 汽車制造：用于檢測發(fā)動機活塞上的石墨涂層、制動盤的防腐涂層以及其他關(guān)鍵零部件的表面處理質(zhì)量。

• 航空航天：對渦輪葉片的熱障涂層、機身結(jié)構(gòu)的防腐涂層等進(jìn)行高精度測量，保障飛行安全。

• 材料科學(xué)研究：在實驗室中，用于分析納米薄膜、太陽能電池薄膜、光學(xué)薄膜等新型材料的厚度及其物理特性。