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更新時(shí)間:2026-05-29
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PT40:中心頻率 40 MHz(高頻)
-6:振子口徑(直徑)6 mm
-16:焦距 16 mm(標(biāo)準(zhǔn)工作距離)
中心頻率:40 MHz(±1 MHz)
振子直徑:6 mm
焦距:16 mm(固定焦點(diǎn),近場(chǎng)優(yōu)化)
壓電材料:P (VDF-TrFE) 高分子壓電薄膜
結(jié)構(gòu):無(wú)透鏡設(shè)計(jì)(無(wú)需聲學(xué)透鏡)
接口:標(biāo)準(zhǔn) UHF / Microdot 可選
聲阻抗:接近水,低損耗傳輸
頻寬:寬帶響應(yīng),適合脈沖回波檢測(cè)
外殼:不銹鋼,工業(yè)級(jí)密封
無(wú)透鏡技術(shù):P (VDF-TrFE) 薄膜直接收發(fā)超聲,無(wú)透鏡雜波干擾,波形更干凈、分辨率更高。
高頻高分辨率:40 MHz 兼顧穿透與分辨率,適合精密近場(chǎng)檢測(cè)、薄層 / 界面成像。
近場(chǎng)性能強(qiáng):可貼近被測(cè)物,消除透鏡回波噪聲,近場(chǎng)信號(hào)信噪比高。
低損耗匹配:阻抗與水接近,超聲能量幾乎無(wú)損耗,靈敏度高。
高穩(wěn)定性:全密封結(jié)構(gòu),適配超聲顯微鏡 SAM、超聲成像 SAT、半導(dǎo)體 / 材料精密無(wú)損檢測(cè)。
超聲波掃描顯微鏡(SAM)
超聲波成像系統(tǒng)(SAT)
半導(dǎo)體晶圓、封裝、基板缺陷檢測(cè)
材料科學(xué):薄膜、涂層、復(fù)合材料、界面檢測(cè)
精密工業(yè)無(wú)損檢測(cè)(近場(chǎng)、高分辨率、薄層測(cè)量)
| 項(xiàng)目 | 參數(shù) |
|---|---|
| 型號(hào) | PT40-6-16 |
| 頻率 | 40 MHz |
| 口徑 | 6 mm |
| 焦距 | 16 mm |
| 振子材料 | P (VDF-TrFE) 壓電薄膜 |
| 透鏡 | 無(wú)(無(wú)透鏡設(shè)計(jì)) |
| 接口 | UHF / Microdot |
| 應(yīng)用 | SAM、SAT、半導(dǎo)體、精密 NDT、薄層檢測(cè) |
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