Oji Keisoku (王子計(jì)測(cè)，OSI) KOBRA-WFD0 是一款專為長(zhǎng)條形光學(xué)薄膜研發(fā)的高精度、自動(dòng)進(jìn)樣式光學(xué)位相差測(cè)量系統(tǒng)，核心用于薄膜的相位差、取向角、波長(zhǎng)色散及入射角依賴性分析，是光學(xué)膜研發(fā)與質(zhì)檢的設(shè)備。

一、核心技術(shù)原理

• 測(cè)量方法：平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法 (Parallel Nicol Rotation Method)

• 相比傳統(tǒng)旋轉(zhuǎn)檢偏器法，對(duì)超低相位差樣品（如 OLED 圓偏光片基材）靈敏度高。

• 光路穩(wěn)定性強(qiáng)，可實(shí)現(xiàn)超寬量程一次性測(cè)量，無需切換檔位。

• 光源系統(tǒng)：6 波段固態(tài) LED 光源

• 波長(zhǎng)：450 / 500 / 550 / 590 / 630 / 750 nm (±2 nm)

• 壽命：>20,000 小時(shí)，免維護(hù)，無需更換汞燈 / 鹵素?zé)簟?/p>

二、關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

• 測(cè)量范圍

• 相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（覆蓋從超薄膜到厚補(bǔ)償膜全量程）

• 取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°

• 精度指標(biāo)

• 相位差分辨率：0.001 nm

• 相位差重復(fù)性：≤ 0.03 nm (150 nm 標(biāo)樣，590 nm, 3σ)

• 角度分辨率：0.001°

• 樣品規(guī)格

• 輪廓測(cè)量 (Profile)：寬度 50 mm × 長(zhǎng)度任意（支持連續(xù)自動(dòng)送料）

• 入射角依賴測(cè)量：30 mm ~ 40×50 mm，厚度 t ≤ 3 mm

• 測(cè)量光斑：33 mm2 (5.8 mm 方形)

• 控制系統(tǒng)

• 專用軟件：KOBRA-DSP/FD, KOBRA-RE0

• 支持?jǐn)?shù)據(jù)可視化、報(bào)告導(dǎo)出、多點(diǎn)分布分析

三、產(chǎn)品核心優(yōu)勢(shì)

1. 寬幅自動(dòng)進(jìn)樣

• 專為卷對(duì)卷 (Roll-to-Roll) 工藝的長(zhǎng)條形薄膜設(shè)計(jì)，支持連續(xù)、自動(dòng)化的長(zhǎng)度方向相位差分布（Profile）測(cè)量。

• 大幅提升檢測(cè)效率，適合產(chǎn)線抽檢與研發(fā)批量測(cè)試。

2. 超寬量程與超高精度

• 單次測(cè)量覆蓋 0 至 20,000 nm，無需更換檢測(cè)器或調(diào)整增益。

• 對(duì)nm 級(jí)超薄薄膜（如 OLED 用 COP 膜）和μm 級(jí)厚膜（如大尺寸 LCD 補(bǔ)償膜）均具備納米級(jí)測(cè)量精度。

3. 多功能分析能力

• 相位差分布 (Profile)：沿薄膜寬度 / 長(zhǎng)度方向的均勻性分析。

• 入射角依賴性 (Angle Dependence)：模擬不同視角下的光學(xué)表現(xiàn)。

• 波長(zhǎng)色散特性 (Wavelength Dispersion)：多波長(zhǎng)下的相位差變化趨勢(shì)。

四、典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 顯示光學(xué)材料：相位差膜、偏光板、OLED/LED 用圓偏光片、液晶補(bǔ)償膜

• 高分子材料：拉伸薄膜、聚酰亞胺 (PI) 膜、COP/Cyclic Olefin Polymer 膜

• 研發(fā)與質(zhì)檢：光學(xué)膜材料開發(fā)、制程穩(wěn)定性監(jiān)控、來料品質(zhì)檢驗(yàn)、失效分析

五、總結(jié)