OSI王子計(jì)測(cè)相位差橢圓偏振測(cè)量裝置現(xiàn)貨

OSI王子計(jì)測(cè)相位差橢圓偏振測(cè)量裝置現(xiàn)貨

KOBRA-HB（基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)）KOBRA-HBPR（橢圓偏振）KOBRA-HBSPC（分光全光譜）

相位差/橢圓偏振測(cè)量裝置 KOBRA-HB系列

■特點(diǎn)

1. 測(cè)量方法：
   平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、
   旋轉(zhuǎn)偏振器法、
   平行尼科爾光譜法
   
   

2. 測(cè)量波長(zhǎng)：
   450、500、550、590、630、680nm
   ，400-800nm（光譜范圍）
   
   

3. 垂直入射測(cè)量的樣品尺寸
   ：30mm 正方形或更大。
   入射角依賴(lài)性：30mm 至 40x50mm，t3 或更小。
   
   

4. 測(cè)量區(qū)域
   33mm2（5.8mm 正方形：感光細(xì)胞區(qū)域）
   φ0.8mm（光譜）

Oji Keisoku（OSI 王子計(jì)測(cè)）KOBRA-HB 系列 相位差 / 橢圓偏振測(cè)量裝置 產(chǎn)品介紹

一、核心測(cè)量原理（三合一技術(shù)）

1. 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法（標(biāo)準(zhǔn)模式）：高速測(cè)量面內(nèi)位相差 (Re)、方位角 (φ)、雙折射 (Δn)，適合大面積 mapping、快速抽檢

2. 旋轉(zhuǎn)偏振器法（橢圓偏振模式，HBPR）：一次旋轉(zhuǎn)獲取橢圓率 ψ、相位差 Δ，計(jì)算薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)，適配半導(dǎo)體 / 光學(xué)鍍膜

3. 平行尼科爾光譜法（分光模式，HBSPC）：400~800nm 連續(xù)光譜，測(cè)波長(zhǎng)色散特性 (Re-λ)，分析多層膜、液晶、光學(xué)膜的色散行為

二、核心型號(hào)與配置（三大主力機(jī)型）

三、核心技術(shù)參數(shù)（高精度指標(biāo)）

• 位相差量程：2nm 以下～20000nm（全量程無(wú)盲區(qū)，覆蓋超薄到超厚樣品）

• 位相差分辨率：0.001nm；重復(fù)性（3σ）：≤0.03nm（150nm 標(biāo)準(zhǔn)片，590nm）

• 方位角分辨率：0.001°；重復(fù)性（3σ）：≤0.005°（取向角高精度）

• 光源：長(zhǎng)壽命 LED（壽命 > 20,000 小時(shí)），免維護(hù)、無(wú)需換燈，穩(wěn)定性遠(yuǎn)超傳統(tǒng)鹵素 / 汞燈

• 樣品尺寸：最大 100×100mm，厚度≤3mm；大開(kāi)口設(shè)計(jì)，可直接放入偏光板、大片薄膜

• 設(shè)備尺寸：W300×D700×H500mm（比 KOBRA-W 體積縮小 40%，節(jié)省空間）

• 測(cè)量速度：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量 < 1 秒；mapping 模式高速掃描

四、核心優(yōu)勢(shì)（對(duì)比 KOBRA-W 系列）

1. 超寬量程突破：從超低 Re (2nm 以下) 到超高 Re (20000nm)，一臺(tái)覆蓋所有雙折射樣品，無(wú)需多臺(tái)設(shè)備切換

2. 精度與穩(wěn)定：方位角 / 位相差分辨率提升，長(zhǎng)期漂移極小，適合量產(chǎn)線 24h 連續(xù)質(zhì)控

3. 免維護(hù) LED 光源：壽命 > 2 萬(wàn)小時(shí)，無(wú)耗材、無(wú)預(yù)熱、開(kāi)機(jī)即測(cè)，運(yùn)維成本大幅降低

4. 緊湊型大開(kāi)口：體積更小、樣品開(kāi)口更大，兼容大片 / 厚片，實(shí)驗(yàn)室 / 產(chǎn)線都適配

5. 三合一多功能：標(biāo)準(zhǔn) / 橢圓偏振 / 分光三種模式，滿足從基礎(chǔ)檢測(cè)到研發(fā)的全需求

6. 軟件與自動(dòng)化：專(zhuān)用分析軟件，自動(dòng)計(jì)算 Re/φ/Δn/ψ/Δ、生成 mapping 圖、色散曲線、數(shù)據(jù)導(dǎo)出；支持自動(dòng)進(jìn)樣器選配

五、適用樣品與典型應(yīng)用

適用樣品

• 光學(xué)薄膜：PET/PI/COP/LCP/PC、相位差膜、偏光板、補(bǔ)償膜、拉伸膜

• 顯示 / 液晶：液晶盒、TFT、OLED 光學(xué)層、偏光組件

• 半導(dǎo)體 / 鍍膜：介電薄膜、光學(xué)涂層、光刻膠、多層膜

• 高分子 / 玻璃：塑料片、玻璃內(nèi)應(yīng)力、纖維、復(fù)合材料、透明板材

典型應(yīng)用

1. 光學(xué)膜研發(fā)：拉伸工藝優(yōu)化、取向均勻性評(píng)估、雙折射 / 位相差控制、熱收縮分析

2. 顯示面板質(zhì)控：偏光板 / 液晶盒位相差、旋光角、斜入射特性檢測(cè)

3. 半導(dǎo)體 / 鍍膜：薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)、多層膜結(jié)構(gòu)解析

4. 材料失效分析：內(nèi)應(yīng)力、雙折射異常、取向缺陷排查

六、系統(tǒng)構(gòu)成與選配

• 標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)（LED 光源 + 偏振光學(xué)系統(tǒng) + 旋轉(zhuǎn)臺(tái)）、專(zhuān)用分析軟件、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片、樣品夾具

• 核心選配：

• 自動(dòng)進(jìn)樣器（批量樣品連續(xù)測(cè)量，20~50 片）

• 傾斜旋轉(zhuǎn)臺(tái)（0~60° 斜入射，測(cè)角度依存性）

• 微區(qū)光斑模塊（φ0.8mm，局部點(diǎn)測(cè)）

• 高溫樣品臺(tái)（室溫～150℃，高溫下雙折射測(cè)量）

• 數(shù)據(jù)導(dǎo)出 / PLC 對(duì)接 / 產(chǎn)線監(jiān)控模塊

七、與王子計(jì)測(cè)生態(tài)聯(lián)動(dòng)

八、采購(gòu)渠道

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