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當前位置:首頁產品中心OSI王子計測PAM-PR300玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置

玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置
產品簡介:

玉科現(xiàn)貨OSI王子計測 PAM-PR300 光軸測量裝置
玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置

產品型號:PAM-PR300

更新時間:2026-04-20

廠商性質:代理商

訪問量:10

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玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置

玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置


光軸測量裝置 PAM-PR300

玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置

■功能特性
測量方法
旋轉偏振器法
平行尼科爾旋轉法
正交尼科爾旋轉法

測量波長
590nm
可選:450nm、550nm、630nm

樣品尺寸
□30~250mm
厚度≤20mm

測量面積
33mm2(5.8mm見方:光電探測器表面)

測量項目
偏振軸方向、方向角、相位差



Oji Keisoku (OSI 王子計測) PAM-PR300 光軸測量裝置 產品介紹

PAM-PR300 是王子計測專為光學薄膜、偏光板研發(fā)的高精度臺式光軸 / 相位差測量儀,主打偏光軸方位、配向角、相位差三項核心測量,以超高角度精度、快速測量、穩(wěn)定可靠為核心優(yōu)勢,面向光學膜材研發(fā)、來料檢驗、產線品質管控場景,屬于 PAM 系列臺式精密偏振測量機型(區(qū)別于便攜式 PAM-PTB100)。

一、核心定位與測量原理

1. 產品定位

  • 核心用途:精準測量光學薄膜、偏光板的偏光軸方位角、分子配向角、相位差,評估膜材取向均勻性、偏光性能、貼合精度,解決薄膜 / 偏光板光軸偏差導致的顯示漏光、色差、視角不良問題

  • 核心優(yōu)勢:角度精度 0.006°(3σ)、單點位 4 秒快速測量、三種測量模式、臺式穩(wěn)定結構、適配大尺寸樣品

  • 適用場景:光學膜材(相位差膜、偏光片、補償膜)研發(fā)、來料 IQC、產線抽檢、實驗室精密標定、偏光板貼合品質驗證

2. 測量原理(三種高精度模式)

  • 旋轉檢偏器法(Rotating Analyzer):標準模式,精準測偏光軸、配向角、相位差

  • 平行尼科爾旋轉法(Parallel Nicol):適配高透過率、低相位差樣品

  • 正交尼科爾旋轉法(Crossed Nicol):適配高消光比、大相位差樣品

  • 光源:590nm 單色 LED(標準),可選 450/550/630nm,滿足不同膜材光譜特性需求


二、關鍵技術參數(shù)(標準)

1. 測量核心參數(shù)

  • 測量項目:偏光軸方位角、分子配向角、相位差(Retardation)

  • 測量波長:標準 590nm;可選 450nm、550nm、630nm

  • 角度精度(3σ):±0.006°(行業(yè)頂尖水平,滿足光學膜材嚴苛要求)

  • 角度分辨率:0.001°

  • 相位差測量范圍:0~1000nm(可擴展)

  • 測量光斑:5.8mm 方形(33mm2),穩(wěn)定覆蓋膜材測量區(qū)域

  • 測量速度:單點位約 4 秒(偏光軸),全參數(shù)測量≤6 秒

  • 樣品規(guī)格:方形 30~250mm,厚度≤20mm,適配大尺寸卷材裁切樣、成品偏光板

2. 硬件規(guī)格(臺式一體化)

  • 主機尺寸:W380 × H390 × D610 mm

  • 主機重量:27kg(穩(wěn)定臺式結構,抗振動、適合實驗室 / 產線固定工位)

  • 供電:AC100~240V,50/60Hz

  • 系統(tǒng)配置:測量主機(含光源 + 光學系統(tǒng))、專用控制軟件、校準片、樣品臺、數(shù)據(jù)線、電源線

3. 軟件與數(shù)據(jù)輸出

  • 專用 Windows 軟件:實時顯示角度 / 相位差數(shù)值、測量曲線、數(shù)據(jù)統(tǒng)計(均值、標準差、Cpk)、合格判定

  • 數(shù)據(jù)格式:CSV、Excel、PDF 報告,支持批量導出、歷史數(shù)據(jù)追溯、SPC 品質管控

  • 操作:一鍵測量、自動校準、參數(shù)預設、樣品定位輔助,降低操作門檻


三、核心產品優(yōu)勢

  1. 超高角度精度,滿足光學膜材需求
    • 角度精度達 **±0.006°(3σ)**,遠超常規(guī)設備,可捕捉微小光軸偏差,適配 OLED/LCD 用偏光片、相位差膜的精密測量

    • 穩(wěn)定光學系統(tǒng),長期漂移小,無需頻繁校準,保證批量測量一致性

  2. 三種測量模式,覆蓋全類型光學樣品
    • 旋轉檢偏器、平行 / 正交尼科爾三種模式自由切換,適配低相位差、高透過率、高消光比等不同特性的光學膜材,無測量盲區(qū)

  3. 快速高效,適配產線批量檢測
    • 單點位 4 秒完成偏光軸測量,全參數(shù)≤6 秒,比傳統(tǒng)設備效率提升 50%+

    • 大樣品臺(250mm),一次放置多片小樣品或整片大尺寸膜材,減少裝夾時間

  4. 穩(wěn)定可靠,臺式結構適配嚴苛環(huán)境
    • 一體化光學設計,抗振動、抗粉塵,適合實驗室與產線混合環(huán)境

    • LED 固態(tài)光源,壽命 > 20,000 小時,免預熱、波長穩(wěn)定、維護成本低


四、典型應用領域

  1. 光學膜材行業(yè):偏光片、相位差膜、補償膜、取向膜的研發(fā)與品質管控,測量光軸均勻性、配向精度、相位差

  2. 顯示面板行業(yè):偏光板來料檢驗、貼合后光軸偏差檢測、面板光學缺陷分析

  3. 高分子材料:拉伸膜、液晶取向膜、光學塑料的分子取向評估


五、與同系列機型對比(PAM-PTB100 vs PAM-PR300)

對比項PAM-PTB100(便攜式)PAM-PR300(臺式)
測量類型透射式橢圓偏振(成品面板)臺式光軸 / 相位差(膜材)
核心精度角度 ±0.05°角度 ±0.006°(3σ)
測量速度3 秒 / 點4 秒 / 點
樣品尺寸面板≥40mm膜材 30~250mm,厚≤20mm
便攜性分體探頭,1.5kg,可手持臺式一體化,27kg,固定工位
核心用途現(xiàn)場 / 產線成品面板快速抽檢實驗室 / 產線膜材精密測量、研發(fā)標定

六、采購渠道

歡迎廣大行業(yè)客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作:

玉崎科學儀器(深圳)有限公司

專項負責人:1??1???????  (林)

地址:廣東省深圳市龍華新區(qū)龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學

#  Oji Keisoku  OSI王子計測中國代理商玉崎科學儀器(深圳)有限公司








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