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產品型號:PAM-PR300
更新時間:2026-04-20
廠商性質:代理商
訪問量:10
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玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置
玉科現(xiàn)貨OSI王子計測光軸測量裝置

■功能特性
測量方法
旋轉偏振器法
平行尼科爾旋轉法
正交尼科爾旋轉法
測量波長
590nm
可選:450nm、550nm、630nm
樣品尺寸
□30~250mm
厚度≤20mm
測量面積
33mm2(5.8mm見方:光電探測器表面)
測量項目
偏振軸方向、方向角、相位差
核心用途:精準測量光學薄膜、偏光板的偏光軸方位角、分子配向角、相位差,評估膜材取向均勻性、偏光性能、貼合精度,解決薄膜 / 偏光板光軸偏差導致的顯示漏光、色差、視角不良問題
核心優(yōu)勢:角度精度 0.006°(3σ)、單點位 4 秒快速測量、三種測量模式、臺式穩(wěn)定結構、適配大尺寸樣品
適用場景:光學膜材(相位差膜、偏光片、補償膜)研發(fā)、來料 IQC、產線抽檢、實驗室精密標定、偏光板貼合品質驗證
旋轉檢偏器法(Rotating Analyzer):標準模式,精準測偏光軸、配向角、相位差
平行尼科爾旋轉法(Parallel Nicol):適配高透過率、低相位差樣品
正交尼科爾旋轉法(Crossed Nicol):適配高消光比、大相位差樣品
光源:590nm 單色 LED(標準),可選 450/550/630nm,滿足不同膜材光譜特性需求
測量項目:偏光軸方位角、分子配向角、相位差(Retardation)
測量波長:標準 590nm;可選 450nm、550nm、630nm
角度精度(3σ):±0.006°(行業(yè)頂尖水平,滿足光學膜材嚴苛要求)
角度分辨率:0.001°
相位差測量范圍:0~1000nm(可擴展)
測量光斑:5.8mm 方形(33mm2),穩(wěn)定覆蓋膜材測量區(qū)域
測量速度:單點位約 4 秒(偏光軸),全參數(shù)測量≤6 秒
樣品規(guī)格:方形 30~250mm,厚度≤20mm,適配大尺寸卷材裁切樣、成品偏光板
主機尺寸:W380 × H390 × D610 mm
主機重量:27kg(穩(wěn)定臺式結構,抗振動、適合實驗室 / 產線固定工位)
供電:AC100~240V,50/60Hz
系統(tǒng)配置:測量主機(含光源 + 光學系統(tǒng))、專用控制軟件、校準片、樣品臺、數(shù)據(jù)線、電源線
專用 Windows 軟件:實時顯示角度 / 相位差數(shù)值、測量曲線、數(shù)據(jù)統(tǒng)計(均值、標準差、Cpk)、合格判定
數(shù)據(jù)格式:CSV、Excel、PDF 報告,支持批量導出、歷史數(shù)據(jù)追溯、SPC 品質管控
操作:一鍵測量、自動校準、參數(shù)預設、樣品定位輔助,降低操作門檻
角度精度達 **±0.006°(3σ)**,遠超常規(guī)設備,可捕捉微小光軸偏差,適配 OLED/LCD 用偏光片、相位差膜的精密測量
穩(wěn)定光學系統(tǒng),長期漂移小,無需頻繁校準,保證批量測量一致性
旋轉檢偏器、平行 / 正交尼科爾三種模式自由切換,適配低相位差、高透過率、高消光比等不同特性的光學膜材,無測量盲區(qū)
單點位 4 秒完成偏光軸測量,全參數(shù)≤6 秒,比傳統(tǒng)設備效率提升 50%+
大樣品臺(250mm),一次放置多片小樣品或整片大尺寸膜材,減少裝夾時間
一體化光學設計,抗振動、抗粉塵,適合實驗室與產線混合環(huán)境
LED 固態(tài)光源,壽命 > 20,000 小時,免預熱、波長穩(wěn)定、維護成本低
光學膜材行業(yè):偏光片、相位差膜、補償膜、取向膜的研發(fā)與品質管控,測量光軸均勻性、配向精度、相位差
顯示面板行業(yè):偏光板來料檢驗、貼合后光軸偏差檢測、面板光學缺陷分析
高分子材料:拉伸膜、液晶取向膜、光學塑料的分子取向評估
| 對比項 | PAM-PTB100(便攜式) | PAM-PR300(臺式) |
|---|---|---|
| 測量類型 | 透射式橢圓偏振(成品面板) | 臺式光軸 / 相位差(膜材) |
| 核心精度 | 角度 ±0.05° | 角度 ±0.006°(3σ) |
| 測量速度 | 3 秒 / 點 | 4 秒 / 點 |
| 樣品尺寸 | 面板≥40mm | 膜材 30~250mm,厚≤20mm |
| 便攜性 | 分體探頭,1.5kg,可手持 | 臺式一體化,27kg,固定工位 |
| 核心用途 | 現(xiàn)場 / 產線成品面板快速抽檢 | 實驗室 / 產線膜材精密測量、研發(fā)標定 |
六、采購渠道
歡迎廣大行業(yè)客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作:
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