玉科現(xiàn)貨OSI王子計(jì)測(cè)超高相位差測(cè)量裝置

玉科現(xiàn)貨OSI王子計(jì)測(cè)超高相位差測(cè)量裝置

超高相位差測(cè)量裝置 PAM-UHR100

■特點(diǎn)
測(cè)量方法
平行尼科爾光譜

法 樣品尺寸
□40mm，厚度≤3mm

測(cè)量項(xiàng)目
相位差 取向角，雙折射

Oji Keisoku (OSI 王子計(jì)測(cè)) PAM-UHR100 超高相位差測(cè)量裝置 產(chǎn)品介紹

一、核心定位與測(cè)量原理

1. 產(chǎn)品定位

• 核心用途：精準(zhǔn)測(cè)量超大相位差透明拉伸薄膜的相位差、分子配向角、雙折射 Δn，評(píng)估拉伸取向均勻性、熱收縮特性、光學(xué)各向異性，解決常規(guī)相位差儀量程不足（僅測(cè) 0~1000nm）、大相位差無法讀數(shù) / 跳數(shù)的問題

• 核心優(yōu)勢(shì)：超大量程 800~20000nm、重復(fù)精度 ±1nm、固定偏振光學(xué)系統(tǒng)、一鍵自動(dòng)計(jì)算雙折射、臺(tái)式緊湊穩(wěn)定

• 適用場(chǎng)景：PET/PC/PMMA 等光學(xué) / 包裝拉伸膜、收縮膜、磁帶基膜、光盤基材、高雙折射高分子材料的研發(fā)、IQC、產(chǎn)線抽檢、工藝參數(shù)優(yōu)化

2. 測(cè)量原理（平行尼科爾分光法）

• 采用固定偏光子 + 固定檢光子 + 白光 LED + 分光檢測(cè)的平行尼科爾光學(xué)架構(gòu)，避免旋轉(zhuǎn)部件磨損、漂移，適合超大相位差穩(wěn)定測(cè)量

• 原理：白光經(jīng)偏光→樣品→檢光→分光器，通過光譜干涉信號(hào)解析，直接計(jì)算超大相位差（800~20000nm）、配向角；輸入樣品厚度后，自動(dòng)計(jì)算雙折射 Δn，無需人工換算

• 光源：白色 LED 固態(tài)光源，壽命長、波長穩(wěn)定、免預(yù)熱，適配寬光譜相位差分析

二、關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)（標(biāo)準(zhǔn)）

1. 測(cè)量核心參數(shù)

• 測(cè)量項(xiàng)目：相位差 (Retardation)、配向角、雙折射 Δn

• 相位差量程：800~20000nm（20μm）（行業(yè)頂級(jí)超大量程，覆蓋所有高拉伸薄膜）

• 相位差重復(fù)精度：±1nm（3σ）

• 配向角測(cè)量范圍：0~180°

• 配向角精度：±0.1°

• 測(cè)量光斑：標(biāo)準(zhǔn) φ5mm（適配 40mm 方形樣品）

• 測(cè)量速度：單點(diǎn)位≤10 秒（含光譜采集 + 計(jì)算）

• 樣品規(guī)格：方形 40mm×40mm，厚度≤3mm（透明拉伸薄膜、片材）

2. 硬件規(guī)格（臺(tái)式緊湊一體化）

• 主機(jī)尺寸：W415 × D325 × H165 mm

• 主機(jī)重量：約 14kg（緊湊臺(tái)式，易放置于實(shí)驗(yàn)室 / 產(chǎn)線工位）

• 供電：AC100V±10%，50/60Hz（可適配寬電壓）

• 環(huán)境要求：溫度 10~35℃、濕度 20~80% RH（無結(jié)露）

• 系統(tǒng)配置：測(cè)量主機(jī)（含光學(xué)系統(tǒng) + 光源 + 分光器）、專用 Windows 控制軟件、樣品臺(tái)、校準(zhǔn)件、數(shù)據(jù)線、電源線

3. 軟件與數(shù)據(jù)功能

• 專用 Windows 軟件：實(shí)時(shí)顯示相位差 / 配向角 /Δn 數(shù)值、光譜曲線、測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)（均值、標(biāo)準(zhǔn)差、Cpk）、合格判定

• 數(shù)據(jù)輸出：CSV、Excel、PDF 報(bào)告，支持批量導(dǎo)出、歷史數(shù)據(jù)追溯、SPC 品質(zhì)管控

• 操作：一鍵測(cè)量、自動(dòng)校準(zhǔn)、厚度輸入→自動(dòng)算 Δn、參數(shù)預(yù)設(shè)、樣品定位輔助，操作簡單、無需專業(yè)光學(xué)背景

三、核心產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1. 超大相位差量程，解決行業(yè)測(cè)量盲區(qū)

• 常規(guī)相位差儀僅測(cè) 0~1000nm，PAM-UHR100 覆蓋800~20000nm，適配高拉伸 PET/PC 膜、收縮膜、磁帶基膜等超大相位差樣品，無量程上限困擾、無跳數(shù) / 無法讀數(shù)問題

• 固定偏振光學(xué)系統(tǒng)，無旋轉(zhuǎn)部件，長期穩(wěn)定性強(qiáng)、漂移小、維護(hù)成本低

2. 超高重復(fù)精度，保證測(cè)量一致性

• 相位差重復(fù)精度 **±1nm**，在 20000nm 超大量程下仍保持高精度，滿足研發(fā)級(jí)、量產(chǎn)級(jí)品質(zhì)管控要求

• 白光分光檢測(cè)，抗干擾強(qiáng)，不受樣品輕微厚度 / 透光率波動(dòng)影響

3. 一鍵全參數(shù)輸出，提升效率

• 一次測(cè)量同時(shí)得到相位差、配向角、雙折射 Δn，輸入厚度自動(dòng)計(jì)算 Δn，無需二次換算

• 單點(diǎn)位≤10 秒，比傳統(tǒng)手動(dòng) / 旋轉(zhuǎn)式設(shè)備效率提升，適配批量抽檢

4. 緊湊穩(wěn)定，適配多場(chǎng)景

• 臺(tái)式一體化、重量輕（14kg），可靈活放置于實(shí)驗(yàn)室研發(fā)臺(tái)、產(chǎn)線質(zhì)檢工位

• LED 固態(tài)光源，壽命 > 20000 小時(shí)，免預(yù)熱、開機(jī)即用，適合高頻次測(cè)量

四、典型應(yīng)用領(lǐng)域

1. 高分子薄膜行業(yè)：PET/PC/PMMA 拉伸膜、收縮膜、光學(xué)補(bǔ)償膜、磁帶基膜、包裝膜的拉伸取向評(píng)估、熱收縮特性分析、雙折射管控

2. 光學(xué)材料研發(fā)：高雙折射高分子材料、光盤基材、液晶配套高相位差膜的研發(fā)與性能驗(yàn)證

3. 產(chǎn)線品質(zhì)管控：高拉伸薄膜來料 IQC、工藝參數(shù)優(yōu)化、成品均勻性抽檢，解決大相位差無法測(cè)量的痛點(diǎn)

五、與同系列常規(guī)機(jī)型對(duì)比（PAM-PR300 vs PAM-UHR100）

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